低温老化箱/光探测器的高低温测试设备

高/低温试验箱

AP-GD-80

AP-GD-150

AP-GD-225

AP-GD-408

内箱尺寸（mm）

400×500×400

500×600×500

500×750×600

600×850×800

运行方式

程序运行，可编定多个程序循环做试验

技术

参数

高低温度范围

0~150℃；-20~150℃；-40~150℃；-60~150℃；-70~150℃

温度波动度

±0.5℃

温度均匀度

≤2.0℃

温度偏差

±2℃

温度控制器

原装韩国进口三元品牌的TEMI880智能型控制系统

温度传感器

Pt100铂电阻

制冷

系统

制冷压缩机/方式

进口全封闭压缩机组/单级压缩制冷，二元复叠压缩制冷

冷却方式

风冷

低温老化箱/光探测器的高低温测试设备安全保护措施

超压、漏电、超温、过载、短路等保护

材料

箱体/保温材料

外壳高级不锈钢板静电喷塑、内胆采用优质SUS304不锈钢板、保温材料：聚氨酯泡沫

标准配置

￠50测试孔一个（多个或者更大直径请下单时说明），试品搁板二套，照明灯

产品标准

低温老化箱/光探测器的高低温测试设备GB10589：低温试验箱技术条件GB10592 :高低温试验箱技术条件

试验方法

GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB2423.22、GJB150.3、GJB150.4