X射线计算机断层扫描成像领域面临的两大挑战是:实现大尺寸样品和大工作距离下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的两款X射线显微镜凭借以下优势解决了这些挑战:系统可提供高功率的X射线源,显著提高X射线通量,从而加快了断层扫描速度。工作效率提高达两倍,而且不会影响空间分辨率。同时,X射线光源的稳定性得到提升,使用寿命也更长。
主要特性包括:
✔zui高空间分辨率500nm,zui小体素40 nm
✔与蔡司Xradia 500Versa系列相比,工作效率提高两倍
✔更加简便易用,包括快速激活源
✔能够在较大的工作距离下对更广的样品类型和尺寸的样品进行亚微米特征的观察
蔡司 Xradia 610 Versa |
蔡司 Xradia 620 Versa |
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空间分辨率a |
500 nm |
500 nm |
大工作距离下的高分辨率 |
1.0 μm |
1.0 μm |
zui小可实现的体素c |
40 nm |
40 nm |
X射线源电压范围 |
30–160 kV |
30–160 kV |
X射线源zui大输出功率 |
25 W |
25 W |
Scout-and-Scan™控制系统 |
✓ |
✓ |
Scout-and-Zoom |
✓ |
✓ |
垂直拼接 |
✓ |
✓ |
XRM Python API |
✓ |
✓ |
自动X射线滤光片转换器(AFC) |
✓ |
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高纵横比断层扫描(HART) |
✓ |
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双扫描衬度可视化系统(DSCoVer) |
✓ |
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宽场模式 |
0.4x |
0.4x 和 4x |
蔡司LabDCT衍射衬度断层扫描 |
选配 |
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蔡司自动进样装置 |
选配 |
选配 |
原位接口套件 |
选配 |
选配 |
蔡司OptiRecon |
选配 |
选配 |
蔡司ZEN Intellesis |
选配 |
选配 |
ORS Dragonfly Pro |
选配 |
选配 |